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在光電器件與材料研發(fā)中,光電測(cè)試IPCE(單色光入射-電子轉(zhuǎn)換效率)的精準(zhǔn)測(cè)量高度依賴穩(wěn)定、可調(diào)的單色光源。傳統(tǒng)光源系統(tǒng)常面臨波長(zhǎng)覆蓋窄、光強(qiáng)波動(dòng)大、切換效率低等痛點(diǎn),導(dǎo)致測(cè)試數(shù)據(jù)偏差大、實(shí)驗(yàn)周期冗長(zhǎng),嚴(yán)重制約了鈣鈦礦太陽能電池、光電探測(cè)器等領(lǐng)域的研發(fā)效率。針對(duì)這一難題,中教金源可調(diào)單色光源系統(tǒng)以寬波段高精度輸出、智能化控制與多場(chǎng)景適配能力,成為光電特性測(cè)試的核心工具,為科研與產(chǎn)業(yè)化提供可靠的光源支持。
寬波段精準(zhǔn)輸出,解鎖全光譜測(cè)試潛能
中教金源可調(diào)單單色光源系統(tǒng)采用高穩(wěn)定性光學(xué)模塊與先進(jìn)濾波技術(shù),覆蓋250-2500nm寬光譜范圍,波長(zhǎng)分辨率達(dá)0.1nm,可精準(zhǔn)輸出紫外、可見至近紅外的任意單色光。系統(tǒng)內(nèi)置光強(qiáng)閉環(huán)反饋機(jī)制,確保輸出光功率穩(wěn)定性優(yōu)于±1%,滿足光電測(cè)試IPCE對(duì)光源均勻性的嚴(yán)苛要求。無論是寬禁帶半導(dǎo)體材料的帶隙分析,還是量子點(diǎn)器件的光響應(yīng)特性研究,用戶均可通過該系統(tǒng)快速獲取高信噪比數(shù)據(jù),顯著提升實(shí)驗(yàn)效率與結(jié)果可信度。
多場(chǎng)景靈活適配,突破復(fù)雜實(shí)驗(yàn)限制
面對(duì)光電器件形態(tài)多樣、測(cè)試環(huán)境差異大的挑戰(zhàn),中教金源可調(diào)單色光源系統(tǒng)通過模塊化設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)多場(chǎng)景無縫切換。系統(tǒng)支持光纖耦合、平行光輸出及聚焦光斑模式,適配透射、反射、顯微觀測(cè)等多種光學(xué)路徑,并兼容液體、薄膜、粉末等樣品形態(tài)。搭配定制化光闌與濾光組件,可有效抑制雜散光干擾,尤其適用于微區(qū)光電測(cè)試或低照度條件下的弱信號(hào)檢測(cè)。此外,其緊湊型結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)便于集成至真空、低溫或氣氛控制等復(fù)雜實(shí)驗(yàn)環(huán)境,為前沿研究提供全維度支持。
智能化控制平臺(tái),賦能高效科研流程
為簡(jiǎn)化操作流程并降低人為誤差,中教金源可調(diào)單色光源系統(tǒng)搭載智能化控制軟件,支持波長(zhǎng)、光強(qiáng)、掃描步長(zhǎng)的程序化設(shè)定,一鍵生成連續(xù)或步進(jìn)式光譜掃描曲線。軟件內(nèi)置光電測(cè)試IPCE專用模式,可聯(lián)動(dòng)外部電化學(xué)工作站或數(shù)據(jù)采集設(shè)備,實(shí)時(shí)同步光電流、電壓與光譜數(shù)據(jù),并自動(dòng)生成量子效率圖譜與分析報(bào)告。用戶還可通過遠(yuǎn)程控制功能實(shí)現(xiàn)多設(shè)備協(xié)同與實(shí)驗(yàn)流程自動(dòng)化,大幅縮短研發(fā)周期,加速科研成果轉(zhuǎn)化。