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太陽(yáng)光模擬器的參數(shù)及等級(jí)劃分
太陽(yáng)光譜匹配性、輻射空間不均勻性、輻射時(shí)間穩(wěn)定性等參數(shù)都是太陽(yáng)光模擬器的重要參數(shù)。
太陽(yáng)光譜匹配性
在室內(nèi)測(cè)量時(shí),太陽(yáng)光模擬器用來(lái)模擬太陽(yáng)電池光電轉(zhuǎn)換特性測(cè)試,并在測(cè)量太陽(yáng)電池量子效率時(shí),需將太陽(yáng)光模擬器作為偏置光源照射在太陽(yáng)電池上,因此,必須確定太陽(yáng)光模擬器的光譜照度分布與真實(shí)太陽(yáng)的差別,才能準(zhǔn)確分析太陽(yáng)電池的光電轉(zhuǎn)換特性。
IEC 60904-3 所給出的 AM 1.5 的參照光譜輻射值的偏差就是太陽(yáng)光模擬器的光譜匹配度。脈沖式太陽(yáng)光模擬器的光譜匹配度會(huì)隨著脈沖的改變而改變。因此,光譜輻射測(cè)定實(shí)驗(yàn)應(yīng)在 一定時(shí)間內(nèi)進(jìn)行,并需定期檢查其數(shù)值。
依據(jù)穩(wěn)態(tài)陽(yáng)光模擬光源在幾個(gè)光譜段與真實(shí)陽(yáng)光的差異進(jìn)行劃分等級(jí):0.75~1.25 內(nèi)為 A 級(jí); 0.6~1.4 內(nèi)為 B 級(jí);0.4~2.0 內(nèi)為 C 級(jí)。
輻射空間不均勻性
輻照不均勻,會(huì)造成太陽(yáng)電池組件上各電池片接收到的光輻射不同,從而使太陽(yáng)電池效率和功率評(píng)定產(chǎn)生偏差。輻照不均勻度就是在有效幅照面的整個(gè)范圍內(nèi),輻照度隨位置變化的最大偏差。
假設(shè)測(cè)試平面內(nèi)各點(diǎn)的輻照度 G 不隨時(shí)間變化,則平面的輻照不均勻度為:
輻照不均勻度 =( 同一測(cè)試平面上最大輻射 照度 – 最小輻射照度 )/( 最大輻射照度 + 最小輻射照度 )×100%
式中,輻照度是指輻照到面上的輻射通量與該面的面積之比。
在測(cè)定光伏組件的太陽(yáng)光模擬器的輻射的非均勻性主要取決于測(cè)試室或測(cè)試裝置內(nèi)部的反射條件。因此,非均勻性對(duì)整個(gè)系統(tǒng)來(lái)進(jìn)行評(píng)估的。
依據(jù) IEC 60904-9-2007 標(biāo)準(zhǔn)劃分等級(jí):2% 以內(nèi)為 A 級(jí);5% 以內(nèi)為 B 級(jí);10% 以內(nèi)為 C 級(jí)。
輻射時(shí)間不穩(wěn)定性 ( 輻照不均勻度、輻照不重復(fù)度 )
輻射時(shí)間不穩(wěn)定性是指在有效輻照面內(nèi)任意給定位置上,在規(guī)定的時(shí)間間隔內(nèi),輻照度隨時(shí)間變化的最大相對(duì)偏差。
假設(shè)測(cè)試平面內(nèi)輻照不均勻性不變,則多次測(cè)量中輻照時(shí)間穩(wěn)定性為:
輻照時(shí)間穩(wěn)定性 =( 多次測(cè)量中測(cè)試平面上 同一參考點(diǎn)處的最大輻射照度 – 最小輻射照度 )/ ( 最大輻射照度 + 最小輻射照度 )×100%
輻射時(shí)間不穩(wěn)定性由 STI ( 短期不穩(wěn)定性 ) 和 LTI ( 長(zhǎng)期不穩(wěn)定性 ) 共同決定。
STI 與 I-U 性能測(cè)試實(shí)驗(yàn)中數(shù)據(jù)的收集時(shí)間相關(guān)。在 I-U 曲線上,STI 的數(shù)值一直變化。在 I-U 性能測(cè)試實(shí)驗(yàn)中,LTI 取 I-U 實(shí)驗(yàn)結(jié)束時(shí)間; 在輻射暴露測(cè)試實(shí)驗(yàn)中,LTI 取輻射暴露總時(shí)間
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